顯微鏡在金相學(xué)中的應(yīng)用：使用蔡司Axio Observer和Axio Imager

2021-10-06

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應(yīng)用領(lǐng)域電子/電器/半導(dǎo)體
樣品材料
項目顯微觀測
參考標(biāo)準(zhǔn)/文獻無

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摘要

為了能夠清晰、可靠地分析材料組織，在最佳觀察條件下執(zhí) 行顯微分析尤為重要。除分析和描述材料結(jié) 構(gòu) 外，對相關(guān) 材料的檢驗還包括根據(jù) 現(xiàn) 有標(biāo) 準(zhǔn) 和規(guī) 范進行層厚測量、相含量或孔隙率定量分析、晶粒度評級或鋼中夾雜物測定等。

借助蔡司 Axio Observer 或蔡司 Axio Imager 顯微鏡，并結(jié)合蔡司 ZEN core 分析軟件，可很好地完成所有這些要求。

蔡司 Axio Observer 突出的特點包括：