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【內(nèi)容簡介】

原子力顯微鏡(AFM)被廣泛用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，細胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)等領(lǐng)域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。本次講座我們將重點介紹采用Bruker NanoScope Analysis離線處理軟件對所獲取的 AFM圖像進行后期處理以及數(shù)據(jù)分析。

本次講座的內(nèi)容主要包括： 1、介紹NanoScope Analysis軟件中圖像處理類功能的原理以及使用方法，包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。 2、介紹NanoScope Analysis軟件中數(shù)據(jù)分析類的功能，包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。

【主講人簡介】

殷 豪，1981年出生，男，博士，布魯克高級技術(shù)支持工程師，客戶培訓講師。2010年畢業(yè)于中國科學院上海技術(shù)物理研究所，獲得理學博士學位。博士期間主 要從事基于原子力顯微鏡(AFM)的III-V族半導體納米電子學研究;畢業(yè)后主要從事AFM相關(guān)的軟硬件技術(shù)支持，以及售后應用支持;具有長達9年的 AFM技術(shù)經(jīng)驗。

【合作伙伴】